近場探棒 近場天線 (30MHz~3GHz)

德國Langer-EMV RF2近場探頭/近場天線組由四個無源近場探頭組成,用於在開發階段測量電子元件上30 MHz至3 GHz的電場和磁場。RF2裝置的探頭允許在組件上逐步定位RF磁場干擾源。RF-R 400-1和RF-R 50-1探頭可以從更遠的距離檢測電磁干擾。RF-B 3-2和RF-U 5-2探頭具有較高的解析度,可以更精確地探測干擾源。電子元件的場方向和場分佈可以通過特定的近場探針來檢測。近場探測器小巧方便。它們有一個電流衰減護套,因此是電遮罩的。它們可以連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。它們沒有內部終端電阻。
型號 : RF-2


  •  RF-2 近場探棒 近場天線 組包含磁場探頭作為印刷電路板先期檢測驗的。
  • 主要用途於量測電路基板之模組,零件,線路...所產生之磁場與電場干擾。
  • 其使用方法主要是連接到頻譜分析儀或示波器,並允許測量磁場和電流所產生的干擾。
  • H-Field Probe RF-R 400 - 1
  • H-Field Probe RF-R 50 - 1
  • H-Field Probe RF-U 5 - 2
  • H-Field Probe RF-B 3 - 2 
  • Cable SMB-BNC
  • Case 175 x 140 x 32 mm
  • Short instruction