高斯計-低頻磁場測試器(1Hz~400kHz)

符合IEC 62233、EN 62233、EN 50366 : 2003及A1 2006標準,直接與主要標準相比,評估場曝露位準。在磁場環境內進行安全評估自動對不同波形執行曝露評估。
* 超寬廣的頻率範圍(1Hz~400kHz)。
* 寬廣的測量範圍(最高到80mT,依類型而定)。
* 包括100cm²探棒及3cm²探棒的3軸向測量。
* 三軸類比信號輸出。
* 可在工作場所與公共空間測量磁場,適用於工業健康安全專家、保險業、服務業。
* 在生產環境檢測由不同製造機器設備所產生的場,含感應加熱、熔化、硬化設備。
* 在一般環境檢測由不同類型商品電子防盜監視系統產生的複雜的場(大部份電磁/磁聲式警報閘門,都在本機型的頻率範圍內操作)。
* 符合EN 50366標準,也適用於測量由家電或其它電器類設備產生的磁場,優點包括完全匹配的頻率範圍及具備規範的傳輸功能。
* 操作模式:整形時域評估模式(EXPOSURE STD)- 與信號形狀無關的場強評估、場強模式- 寬頻場強測量、使用探棒- 三軸類比信號輸出。
型號 : ELT-400

ELT-400 套裝組

符合法規

量測範圍

Part number P/N

Set 1

• EXPOSURE STD: ICNIRP 1998 Gen. Pub. 

• EXPOSURE STD: ICNIRP 1998 Occup.

• FIELDSTRENGTH: 320 μT 

• FIELDSTRENGTH: 80 mT

2304/101

Set 2

• EXPOSURE STD: BGV B11 2001 Exp 2 

• EXPOSURE STD: BGV B11 2001 Exp 1

• EXPOSURE STD: BGV B11 2001 2h/d 

• FIELDSTRENGTH: 8 mT

2304/102

Set 4

• EXPOSURE STD: IEC/EN 62233 

• EXPOSURE STD: ICNIRP 1998 Occup.

• FIELDSTRENGTH: 320 μT 

• FIELDSTRENGTH: 80 mT

2304/104

Set 5

• EXPOSURE STD: IEC 62311 

• EXPOSURE STD: ICNIRP 1998 Occup.

• FIELDSTRENGTH: 320 μT 

• FIELDSTRENGTH: 80 mT

2304/105

Set 6

• EXPOSURE STD: ICNIRP 2010 Gen. Pub. 

• EXPOSURE STD: ICNIRP 2010 Occup.

• FIELDSTRENGTH: 320 μT 

• FIELDSTRENGTH: 80 mT

2304/106

Set 7

• EXPOSURE STD: 2013/35/EU Low ALs 

• EXPOSURE STD: 2013/35/EU High ALs

• EXPOSURE STD: 2013/35/EU Limbs ALs 

• FIELDSTRENGTH: 80 mT

2304/107

Set 8

• EXPOSURE STD: EMFV 2016 Low ALs 

• EXPOSURE STD: EMFV 2016 High ALs

• EXPOSURE STD: EMFV 2016 Limbs ALs 

• FIELDSTRENGTH: 80 mT

2304/108

選購配件

Part number P/N 

Cable, Probe Extension, 1 m

2300/90.30

Cable, Serial Interface, Stereo Jack/DB9, 2 m

2260/90.51

Cable, Interface Analog, DSUB15/3xBNC, 3 m

2260/90.80

Tripod, Non-Conductive, 1.65 m with Carrying Bag

2244/90.31

Tripod Extension, 0.50 m, Non-Conductive

2244/90.45

Transport Soft Case for ELT-400

2245/90.07

B-Field Probe 3 cm2 

(Upgrade required for all ELT-400 with firmware version below 2.1 or serial number A-0001 till H-9999)

2300/90.20