用於評估有安裝半導體元件的電子設備對靜電放電的耐受破壞性之測試器,
最高可測試電壓 ±8kV：藉由評估耐靜電破壞性，以提升耐受性。
可透過更換探棒以測試人體靜電模式Human Body Mode (HBM)和機器靜電模式Machine mode (MM)
此外，選購探棒架(精密測台)，可對細密間距之受測元件進行半自動的靜電測試。
最適合用於進行LED、LCD、光元件等電子零件的耐靜電破壞性評估試驗。
最高可測試電壓±8kV：藉由評估耐靜電破壞性，以提升耐受性。
可對各種間距的受測元件施加靜電：可搭配精密測台，以半自動(Y軸)的腳位移動，精準地對待測物施加靜電(最小0.4mm間距)。
最低測試電壓可從±10V進行測試：可從10V開始以1V步進予以施加，以評估低電壓驅動元件之耐受性。
採用底板式與測試夾方式，以提升操作便利性：可適用於LED、LCD、光元件等各種形狀的DUT。
元件靜電放電模擬器ESS-6008符合下列半導體元件的靜電測試標準。
人體靜電模式（HBM）
AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003
ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5. 1-2001
IEC 61340-3-1 Ed. 1 .0 2002
IEC 60749-26 Ed. 1.0 2003
JEDEC JESD22-A114D Jan.2005 Mar.2006
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304
MIL-STD-883F 3015.7 Mar.1989
機器靜電模式（MM）
AEC-Q100-003-Rev-E Jul.2003
ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999
IEC 61340-3-2 Ed.1.0 2002
IEC 60749-27 Ed. 1 .0 2003
JEDEC JESD22-A115A Oct. 1997
JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Reference Test Method...
