防塵試驗設備

IEC60529-2013 Test probes
A. IP1X: sphere of 50mm, probe with 50N model: TSP-50N
B. IP2X: rigid sphere 12.5mm, force 30N model: TSP-30N
C. IP3X: rigid steel rod 2.5mm, force 3N model: TRP-3N
D. IP4X: rigid steel rod 1.0mm, force 1N model: TRP-1N

用於檢測設備機殼防止固體異物進入的能力，以驗證其IP5X“防塵(限制灰塵侵入)”與IP6X“塵密(完全密封防塵)”保護等級，符
合IEC 60529標準2001-02 § 13.1表VII圖2。

砂塵試驗箱是根據 IEC60598-1《燈具一般安全要求與試驗》、IEC60529《外殼防護等級（IP 代碼）》標準要求設計製造，用於 IP5X/IP6X 耐塵測試的試驗設備，該設備適用于燈具及家電/電子產品認證檢測機構及生產企業品管部門對產品的檢測用途。
試驗箱主要採用人工類比砂塵環境，來檢驗試驗品對防塵能力的試驗設備，提供一個自下而上的懸浮狀態的載塵狀態，粉塵可以在試驗箱內迴圈使用；設備門前端帶觀察窗，並帶用擦塵雨刮；設備根據 IEC60598-1 的要求內附有防塵插座及燈具懸持吊鉤，控制電氣可按照燈具試驗進行通斷電測試，使在進行燈具檢測時更為方便。

IEC60529/CNS14165設備
IP1X~4X 防塵測試棒組保證符合法規要求
a. IP1X: 50mm測棒 TSP-50N
b. IP2X: 12.5mm測棒 TSP-30N
c. IP3X: 2.5mm測棒 TRP-3N
d. IP4X: 1.0mm測棒 TRP-1N