電子控制元件之電子設備的雜訊干擾異常,已成爲現今社會嚴重的問題。
較普遍的干擾源就是繼電器開與關時所產生之流經電感性元件電流,因瞬間電流中斷所造成的干擾。
此種雜訊含較寬頻之頻譜;透過導線或設備內部的印刷電路板的線路藕合、反射、共振,並經IC放大,造成裝置設備出現故障。
脈衝雜訊(簡稱爲INS)模擬試驗器的設計由來,是1970年代早期美國電腦製造廠發覺數位設備的誤動作對外部造成損害而引起關注。
INS是一台能模擬數位裝置所受的干擾信號面對耐受性問題,INS銷售量全球已超過5,000台
現在INS試驗法已成爲日本以及亞洲各國所探納的試驗方法。